Über den Autor
Tania Campos obtuvo la Maestría Sistemas Computacionales en el área de Inteligencia Artificial en el TecNM campus Chihuahua II en 2016. Es coautora del artículo Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software publicado en el Journal of Mechanics Engineering and Automation en 2015.
Klappentext
Este trabalho apresenta o modelo concebido para a análise de imagens contendo padrões de difração, bem como o software desenvolvido para fazer medições de ângulos e distâncias entre diferentes pontos característicos (sinais) incluídos nos padrões em estudo pelos pesquisadores do Centro de Pesquisa em Materiais Avançados (CIMAV). A principal razão para desenvolver este sistema é que os pesquisadores devem realizar o processo de análise e indexação de padrões de difração manualmente, uma tarefa que se torna entediante e propensa a erros humanos. É por isso que a ferramenta foi projetada para automatizar e auxiliar na indexação de padrões em imagens, facilitando o processo de detecção de sinais e, assim, conseguir uma medição mais precisa entre os elementos do padrão de difração analisado.
